كتب : دكتور نفر
بمناسبة العيد القومي لمدينة الأقصر وذكرى اكتشاف مقبرة توت عنخ آمون “4 نوفمبر 1922” تعلن وزارة الآثار بالتعاون مع كلية الهندسة جامعة القاهرة ومعهد الحفاظ على التراث والابتكار بباريس-فرنسا “www.HIP.institute” عن بدء إجراء التصوير باستخدام الأشعة تحت الحمراء “Infrared Thermography” لجدران “مقبرة توت عنخ آمون” يومي 5و6 نوفمبر الجاري وذلك في الأماكن المحتمل أن يوجد بها فتحات بناءً على فرضيات الأثري البروفيسير “نيكولاس ريفز”، وجدير بالذكر هذا الإجراء يتم بناء على طلب وزارة الآثار بعد موافقة اللجنة الدائمة للآثار المصرية والحصول على التصاريح اللازمة لذلك من الجهات المعنية بالدولة.
